연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

  • 직접사용가능
  • 분석의뢰(시료)가능
  • 분석의뢰(시간)가능

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장비 상세정보 테이블
Atomic Force Microscope(AFM) (NX-10)
장비분야 표면분석
한글기기명 Atomic Force Microscope(AFM)
영문기기명 Atomic Force Microscope(AFM)
모델명 NX-10
제조사 Park Systems
사용구분 직접사용, 분석의뢰(시간)
설치장소 신촌캠퍼스 : 첨단과학기술연구관 B121호
담당자 안유진 / 02-2123-6979 / badakajok@yonsei.ac.kr

* 분석서비스요일:  월요일/화요일/수요일  

 * 분석 서비스 모드 : Basic mode (NCM/Contact/tapping)

                                      Option mode (C-AFM, F-D curve)

                                      Option mode 서비스 분석 시,  담당자와 상의 후 소요 시간을 파악하여 예약해 주세요.

 

 

* 분석비스 의뢰시 추가요청사항에 분석을 원하시는 모드를 적어주시기 바랍니다.

* 직접사용자용 캔틸레버는 현재 재고가 없어 구매가 어려운점 양해 부탁드립니다.

  

[장비소개]

AFM(Atomic Force Microscope)

SPM(Scanning Probe Microscope)의 하나로서 Probe와 시료사이 상호작용에 의하여 달라지는 반데르발스 힘( Van Der Waals Force)에 의하여 Probe가 움직이게 된다.

미세한 탐침을 시료 표면의 원자 단위의 미세한 크기까지 근접시키면 양자의 원자간의 힘이 작용하게 되고 이를 이용하여 표면의 원자 구조와 형태를 측정하는 현미경이다.

 

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