연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

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장비 상세정보 테이블
이온빔 단면 가공기(Ion Beam Cross Section Polisher, CP) (IB-19510CP)
장비분야 표면분석
한글기기명 이온빔 단면 가공기(Ion Beam Cross Section Polisher, CP)
영문기기명 Ion Beam Cross Section Polisher(CP)
모델명 IB-19510CP
제조사 JEOL
사용구분 분석의뢰(시료)
설치장소 신촌캠퍼스 : 첨단과학기술연구관 B119호
담당자 홍규림 / 02-2123-7423 / rbfla1020@yonsei.ac.kr
  1. Soft(toner, polymer, biological sample), hard, composite material 단면 가공
  2. EBSD에 적합한 표면의 기계적인 변형 최소화
  3. 넓은 면적은 rotation holder를 이용하여 낮은 각도로 비스듬한 etching에 의한 연마 가능

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