연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

  • 직접사용가능
  • 분석의뢰(시료)가능
  • 분석의뢰(시간)가능

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장비 상세정보 테이블
FE-SEM (JSM-7001F) (JSM-7001F)
장비분야 표면분석
한글기기명 FE-SEM (JSM-7001F)
영문기기명 Field Emission Scanning Electron Microscope
모델명 JSM-7001F
제조사 JEOL
사용구분 직접사용, 분석의뢰(시간)
설치장소 신촌캠퍼스 : 첨단과학기술연구관 B117호
담당자 김수현 / 02-2123-6976 / kiso01@yonsei.ac.kr
  • 직접사용 전용장비입니다. 분석의뢰는 7800 및 IT-800 장비로 예약해 주시기 바랍니다.

 

[기기 특성]

  • 낮은 가속전압에서 높은 probe current
  • 높은 beam 안정도
  • 넓은 시료 예비교환실 : Airlock Chamber
  • 간단한 시료교환 : One Action Mechanism
  • Network를 이용한 조작 가능 

 

* 직접 사용 유저 교육 문의 : 안유진 (badakajok@yonsei.ac.kr)

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