연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

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Atomic Force Microscope(AFM)

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장비분야표면분석
모델명NX-10
제조자Park Systems

E-Beam Lithography

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장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명-
제조자Raith

FE-SEM (JSM- 7610F-Plus)

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장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JSM-7610F-Plus
제조자JEOL

FE-SEM (JSM-7001F)

  • 직접사용가능
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장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JSM-7001F
제조자JEOL

FE-SEM (JSM-7800F)

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장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JEOL-7800F
제조자JEOL Ltd.

FE-SEM (JSM-IT-500HR)

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장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명IT-500HR
제조자JEOL

FE-SEM(JSM-6701F)

  • 직접사용가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JSM-6701F
제조자JEOL

FE-SEM(JSM-IT800(SHL))

  • 분석의뢰(시간)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JSM-IT800(SHL)
제조자JEOL Ltd.

FIB 집속이온빔 _ Crossbeam 350

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장비분야표면분석
모델명crossbeam350
제조자ZEISS

FIB 집속이온빔 _ Crossbeam 540

  • 직접사용가능
  • 분석의뢰(시간)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명crossbeam 540
제조자ZEISS

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