연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

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Atomic Force Microscope(AFM)

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장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명NX-10
제조자Park Systems

FE-SEM (JSM- 7610F-Plus)

  • 직접사용가능
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장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JSM-7610F-Plus
제조자JEOL

FE-SEM (JSM-7001F)

  • 직접사용가능
  • 분석의뢰(시간)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JSM-7001F
제조자JEOL

FE-SEM (JSM-7800F)

  • 직접사용가능
  • 분석의뢰(시간)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JEOL-7800F
제조자JEOL Ltd.

FE-SEM (JSM-IT-500HR)

  • 직접사용가능
  • 분석의뢰(시간)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명IT-500HR
제조자JEOL

FE-SEM(JSM-6701F)

  • 직접사용가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명JSM-6701F
제조자JEOL

FIB 집속이온빔 _ Crossbeam 350

  • 분석의뢰(시료)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명crossbeam350
제조자ZEISS

FIB 집속이온빔 _ Crossbeam 540

  • 분석의뢰(시간)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명crossbeam 540
제조자ZEISS

Ion slicer

장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명EM-09100IS
제조자JEOL

Optical Microscope 광학 현미경

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  • 분석의뢰(시간)가능
장비에 대한 정보를 보여주는 테이블
장비분야표면분석
모델명BA310MET
제조자Motic

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