전자빔을 생성하여 시료에 투과시켜 각종 물질의 내부/결정 구조를 관찰, 이미지화하고 화학 성분을 분석
- Acquisition of ultra high resolution image for Spherical aberration Correction
- Spatial resolution analysis
- Crystal structure analysis
- Tiny area analysis, Defect analysis etc.
- Element analysis
- Energy Dispersive X-ray Spectrometry (EDS)
TEM
- Electron Gun Type : Schottky Field Emission Gun
- Resolution : 0.23 nm(at TEM) / 0.19 nm(at STEM)
- Magnification : x 20 to x 2.0 M(at TEM) / x 100 to x 150 M (at STEM)
- Accelerating Voltage : 200 kV
- Tilt Angle : ± 30 o
EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)
- Windowless Detector
- Solid Angle : 0.3 to 0.7 steradians
TEM grid 또는 FIB 가공된 샘플로 준비
장비에 대한 요금 정보를 보여주는 테이블
| 구분 |
실험/옵션명 |
적용일 |
기준 |
교내교수 |
교내학생 |
교외교수 |
교외학생 |
업체(연구소) |
| 실험 (분석의뢰(시간)) |
TEM_F200_서비스시간 |
2022-10-26 |
30분 |
60,000원 |
60,000원 |
80,000원 |
80,000원 |
80,000원 |
| 실험 (직접사용) |
TEM_F200_직접사용(주간) |
2022-10-26 |
30분 |
40,000원 |
40,000원 |
0원 |
0원 |
60,000원 |
| 실험 (직접사용) |
TEM_F200_직접사용(주중야간,주말) |
2022-10-26 |
30분 |
15,000원 |
15,000원 |
0원 |
0원 |
40,000원 |
| 옵션 |
EDS(1 sample. 5site/10point ) |
2022-10-26 |
1개 |
40,000원 |
40,000원 |
60,000원 |
60,000원 |
60,000원 |
| 옵션 |
EDS(2 Site)_직접사용 |
2022-10-26 |
1개 |
20,000원 |
20,000원 |
0원 |
0원 |
0원 |
| 옵션 |
STEM_서비스시간 |
2022-10-26 |
1개 |
40,000원 |
40,000원 |
60,000원 |
60,000원 |
60,000원 |
| 옵션 |
STEM_직접사용 |
2022-10-26 |
1개 |
20,000원 |
20,000원 |
0원 |
0원 |
0원 |
| 옵션 |
시료 전처리_Grid 개수당 |
2022-10-26 |
1개 |
10,000원 |
10,000원 |
10,000원 |
10,000원 |
10,000원 |
- 서비스 의뢰
- 본원에서 FIB 전처리를 하는 경우: 담당자 윤성민 (melanie@yonsei.ac.kr, 02-2123-6974)에게 사전에 연락하여 TEM 분석 일정 조율
- 시료 전처리(Grid)가 필요한 경우, 사전에 담당자에게 연락 바랍니다.
- 예약 후 분석 일자 3일 이내로 취소할 경우, 사용 금액의 100%가 패널티가 부과됩니다.
- 직접 사용 문의 : 02-2123-7444/ srlee0923@yonsei.ac.kr
