연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

  • 직접사용가능
  • 분석의뢰(시료)가능
  • 분석의뢰(시간)가능

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장비 상세정보 테이블
투과전자현미경(TEM)_JEM-2100Plus (JEM-2100Plus)
장비분야 표면분석
한글기기명 투과전자현미경(TEM)_JEM-2100Plus
영문기기명 Transmission Electron Microscope(TEM)_JEM-2100Plus
모델명 JEM-2100Plus
제조사 JEOL
사용구분 직접사용
설치장소 신촌캠퍼스 : 첨단과학기술연구관 B121-A호
담당자 이새롭 / 02-2123-7444 / srlee0923@yonsei.ac.kr

JEM-2100은 다목적, 200kV 분석 전자 현미경입니다.

JEM-2100은 다양한 기능의 통합 PC 시스템과 우수한 비용 대비 성능을 통합하여 생물학에서 재료 연구까지 폭넓은 과학 분야의 연구 개발을 지원합니다.

 

전자빔을 생성하여 시료에 투과시켜 각종 물질의 내부 구조를 관찰이미지화

EDS 분석 불가능 하며, 이미지 분석만 가능합니다.

 

가속전압 : 200 kV

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