연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

*분석서비스요일:  월요일/화요일

* 분석비스 의뢰시 추가요청사항에 분석을 원하시는 모드를 적어주시기 바랍니다.

직접사용자용 캔틸레버는 현재 재고가 없어 구매가 어려운점 양해 부탁드립니다.

장비소개

AFM(Atomic Force Microscope)

SPM(Scanning Probe Microscope)의 하나로서 Probe와 시료사이 상호작용에 의하여 달라지는 반데르발스 힘( Van Der Waals Force)에 의하여 Probe가 움직이게 된다.

미세한 탐침을 시료 표면의 원자 단위의 미세한 크기까지 근접시키면 양자의 원자간의 힘이 작용하게 되고 이를 이용하여 표면의 원자 구조와 형태를 측정하는 현미경이다.

장비 SPEC

XY Scanner

• 50 um x 50 um
• Resolution: 0.05 nm

Motorized Stage

• Sample size: up to 50 mm x 50 mm, up to 20 mm thickness
• Sample weight: up to 500 g

Z Scanner range

• Scan range: 15 um
• Resolution: 0.015 nm

Standard Imaging

• True Non-contact AFM
• Basic contact AFM
• Intermittent(tapping)AFM
• Phase Imaging
• Lateral Force Microscopy(LFM)

Electrical Properties

• IV Spectroscopy
• Conductive AFM (measurable current range: 10pA-10uA)
• Scanning Kelvin Probe Microscopy(SKPM/KPFM)

• Molecular vibration
• Impurity analysis
• Chemical mapping
• Crystallinity of epitaxial thin film, single crystal
• Confirmation of axis of single crystal

• 시료 크기는 가능하면 1cm x 1cm로 준비해 주세요.
• 시료에 대한 설명을 미리 메일로 보내주시면 좋습니다. (시료 상태, 측정 모드, 측정 사이즈, 참조 논문, 측정 목표 등)

• NCM 모드 측정 시 1시간에 2~3장의 이미지 측정 가능합니다. (512 pix 기준)
• 서비스 시간  예약시 캔틸레버 요금 1회 부과 및 오염 및 파손시 교체 비용 추가
• 등록된 이메일로 결과 송부.