연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

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장비 상세정보 테이블
XPS-UPS (AXIS Supra+)
장비분야 구조분석
한글기기명 XPS-UPS
영문기기명 XPS-UPS
모델명 AXIS Supra+
제조사 Kratos Analytical
사용구분 분석의뢰(시료)
설치장소 신촌캠퍼스 : 첨단과학기술연구관 204호
담당자 최영진 / 02-2123-7441 / cyjhe123@yonsei.ac.kr
  • XPS는 고체 시료의 표면에 특성 X-선을 입사하여 방출되는 광전자의 운동에너지를 측정함으로써 시료 표면층에 존재하는 원소의 종류와  검출된 원소의 조성비 및 화학적 결합상태를 알 수 있음.
  • UPS는 고체 시료의 표면에 자외선을 입사하여 방출되는 광전자의 운동에너지를 측정함으로써 시료 표면층 valence band 특성을 알 수 있음.
  • XPS 및 UPS의 각 spectrum에 대한 범위 지정이 가능함.
  • Ar cluster ion을 이용한 에칭은 Ar ion에 비해 에칭 속도가 느리지만 Ar 이온에 의한 원소 간 결합의 파괴를 줄일 수 있음.   

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