연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

1. 제작사 : JEOL
2. 모델명 : EM-09100IS
3. 기기특성
   • Bulk, Nano Particle, Multi Layer Sample 등을 TEM 분석하기 위해 단면 가공
   • 100 nm 이하의 두께로 가공하여 TEM 및 EDS 분석이 용이
   • 넓은 면적을 가공이 편리함

1. Ion Acceleratin Voltage : 1 to 8 kV
2. Tilt Angle : Up to 6 degree
3. Beam Diameter : 500 um
4. Milling Rate : 5m/min (8 kV, silicon)
5. Gas for Beam Irradiation : Argon
6. Recommended Specimen Size : 2.8 mm(Length) / 0.5 mm (Width) / 0.1 mm (Thickness)

전자빔을 시료로 투과하여 각종 물질의 내부/결정 구조를 관찰, 이미지화하고 화학 성분 분석을 하는 투과전자현미경(TEM)을 관찰하기 위한 시료전처리

1. 박막시료(위치파악 필수)
2. powder 시료 (몰딩 필수)

1. 서비스의뢰 예약 가능 시간 유선상으로 문의
   이온 슬라이서 분석 절차 : 서비스 의뢰 예약 -> 시료 도착 -> 예약 승인 -> 시료 도착 순서대로 실험진행 -> 이온슬라이서 가공 시료 전달 -> 실험완료 -> 결제
2. 예약자와 실제 데이터 받으실 분과 시료 발송자가 다를 경우, 서비스신청 시 사용자 메모란에 데이터 받으실 분의 성함, 연락처, 이메일 주소를 기입해주시지 않으면 예약 확인이 되지않아 실험 진행을 할 수 없습니다. 사용자 메모란에 꼭 기입해주세요.
3. 시료 정보 및 측정목적을 '의뢰신청서'에 작성해 주시기 바랍니다.