연세대학교 공동기기원 - Yonsei University

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장비안내

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장비 상세정보 테이블
국제캠퍼스_AFM(Atomic Force Microscope) (XE-100)
장비분야 표면분석
한글기기명 국제캠퍼스_AFM(Atomic Force Microscope)
영문기기명 AFM(Atomic Force Microscope)
모델명 XE-100
제조사 Park Systems
사용구분 직접사용
설치장소 국제캠퍼스 : 국제캠퍼스 자유관B 105호
담당자 / /

미세한 탐침을 샘플 표면에 원자의 크기까지 근접시키면 양자의 원자간에 힘이 작용한다. 탐침을 캔틸레버(Cantilever)의 끝에 매달아 놓고, 캔틸레버의 도중에 도전체의 작은 바늘을 달아 터널전류를 측정 혹은 반사광의 편향을 검출함으로써 원자간의 힘을 측정하여 표면의 원자상을 측정할 수 있다.

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